SPSR-2030(200-3000nm) 紫外-可见-红外超纯分光光谱辐射扫描测量系统
200nm-3000nm 超纯超细全光谱扫描
SPSR-2030系统采用双单色仪结构，可实现200nm-3000nm超纯超细全光谱扫描，用于光谱分布、波长、辐射功率等测试。杂散光极低、测试波段范围宽，测量精度高，特别适用于医疗领域的光源测试。
典型应用场景
主要特点
一、同轴对称双单色仪技术
采用独特的同轴双单色仪技术，其性能远超传统单色仪机械扫描光谱仪，且彻底消除了两个光栅的扫描同步误差。
二、低杂散光，高波长精度
波长准确度和杂散光控制水平高，带宽小，可广泛应用于各类光源的光谱和光辐射量值测试。
三、高分辨率、高灵敏度
集成远方历代光谱仪在光学设计、机械机构、电子电路及应用软件上的优势，高分辨率、高灵敏度、低噪声。
四、NIM和NIST 溯源
量值可溯源至中国国家计量院（NIM）和美国NIST，准确度和权威性高。
五、优异的光学系统设计
系统设计和测量原理满足CIE等相关标准对光和颜色测量的要求。
主要技术指标
| 型 号 | SPSR-2030 |
| 波长范围 | 200nm-3000nm |
| 波长准确度 | 最高0.1nm |
| 半峰带宽 | 最高2nm |
| 杂散光 | 紫外 10E-8 其他波段 1E-04 |
| 辐射度测量 | 根据不同配置可实现辐通量、辐照度、辐亮度的测量 |
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