典型应用场景
GO-SPEX200 紫外空间辐射分布测试系统采用独特的暗箱设计，集辐射度、辐射分布、电性能测量及温控功能与一体，专门用于紫外专封装LED（包括集成封装）的总辐射通量、空间辐射强度分布（配光性能）、辐射强度数据、空间角度特性的准确测量，符合相关标准要求。
主要特点
高精度二维转台
转台角度精度0.2°，可实现LED的精确定位以及其空间角度特性的准确测量。
精确控温
内置温控平台，精确控温，为LED设计应用提供指导性数据。
集成空间辐射度分布测量系统
可实现不同波长紫外LED光源的相对光谱功率分布、峰值波长、辐射强度分布、总辐射通量的高精度测量。
高稳定度的恒流供电单元
确保LED稳定供电，提高测量精度。
主要技术指标
| 型 号 | GO-SPEX200 |
| 转台机械部分指标 | |
| 测量距离 | 100mm，316mm，1000mm |
| 被测LED自动旋转范围 | ±90°(γ轴)，±180°(C轴) |
| 测量数据可以以IES等国际标准文件导出，可用于二次光学设计 | |
| 温控参数 | |
| 温度控制范围 | 5℃～120℃ |
| 温度显示分辨率 | 0.01℃ |
| 温控夹具控温方式 | TEC自动控温，精度±0.5℃ |
| 温控平台尺寸 | φ50mm |
| 光谱及辐射度参数 | |
| 波长范围 | 200nm-450nm |
| 波长准确度 | 0.1nm |
| 半峰带宽 | 1nm |
| 光谱辐照度测量范围 | 光谱辐照度测量范围：0-20000uw/cm² （不同波段测量范围不同，特殊范围可定制） |
| 辐照度准确度 | 标准级（专用标准灯校准后） |
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