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首页 产品中心 台式分光测色仪 SICA-2000 光谱图像测色分析仪
SICA-2000 光谱图像测色分析仪
高光谱测色专利技术 “无法测量的材料”实现数字化颜色测量
典型应用场景
SICA-2000光谱图像测色分析仪采用远方高光谱测色专利技术,采用CIE D/8测量几何,可快速获得混色、形状不规则以及小尺寸等材料的光谱图像,并对图像各区域的颜色和光谱进行分析,并可对“无法测量的材料”实现数字化高精度测量,非常适用于纺织品、纺织饰物(纽扣、按钮、拉链等)、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行业。
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主要特点
1、符合CIE标准D/8测量几何要求,同时具备SCI和SCE测量条件。
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2、采用高性能光源,长期稳定性好,光源寿命更长。
3、多方位监控以及补偿设计,保证测试结果的重复性更高、稳定性更好。
4、采用远方高光谱引擎,图像分辨率高,空间测量分辨率更高。
5、专利的软硬件系统设计提供了极高的光谱测试的准确度以及解析力,保证测试的准确性
主要技术指标
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