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Mini/Micro LED测量解决方案 Mini/Micro LED测量解决方案

系统简介

Mini/Micro-LED 凭借着自发光、广色域、对比度高、响应快等特点得到广泛的应用,远方可提供从单颗芯片、LED模组到Mini/Micro-LED显示屏的综合测试解决方案,主要包括常规光色电参数、光强分布、亮度及色度均匀性、GAMMA曲线以及显示器的视角特性、瞬时特性、串扰等综合特性参数的测试。
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Mini/Micro LED 单颗芯片光电性能测试

HSF-200 Micro-LED 高灵敏快速光电性能分析系统搭载高灵敏绝对光谱辐射功率分析仪、高灵敏光强测量单元,并配备专业的测量分析软件,可实现单颗及阵列Mini/Micro-LED的发光光谱分布、辐射功率、光强、色品坐标、主波长、峰值波长、半宽度等相关参数的精准测试。
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单颗LED及LED模组光电性能、角度测试分析

PCE系列光色电综合测试系统采用世界领先的高精度快速光谱辐射计,主要用于测试LED背光源、LED模块、LED灯条的相对光谱功率分布、光通量、光效、光功率、相对光谱功率分布、色品坐标、色温、显色指数等参数。LED626可实现LED的正向电压、正向电流、反向电压、反向电流、光强、光束角、三维光强分布图、光强随正向电流变化特性曲线等参数的测量。
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二维面阵式亮度、色度及均匀性分析

CXC系列成像彩色亮度计主要用于亮度、色度、亮度均匀性、色度均匀性等测量,并可基于实际应用实现MURA分析等功能。该设备精确匹配CIE1931的三刺激值函数,且具有极佳的低亮度测量功能,具有测量精度高、测量速度快、操作方便等优点,可广泛应用于背光源、OLED屏、LED屏、LCD屏、Mini/Micro-LED显示等领域。
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Mini/Micro LED显示器的光谱及亮度测试

SRC系列光谱彩色亮度计是远方光电基于近30年的光辐射测量的技术沉淀,结合精密的光学设计技术和高性能电子信号处理技术,推出的高精度光谱彩色亮度计。它是集光谱、亮度、颜色测量功能于一体,低亮度下也能保持卓越的精度及测量速度。
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产品的GAMMA校正及频闪测试

DCA系列显示色彩分析仪是基于远方多年的光度色度测量技术沉淀,XYZ三通道探测器光谱灵敏度曲线与CIE 1931三刺激值曲线拟合度高,XYZ三刺激值测量精度达到光谱级水平,主要用于液晶背光、Mini/Micro-LED、OLED等显示器的亮度、色度、GAMMA曲线以及频闪参数的测量。不仅适合现场快速测量,也以其卓越的重复性和稳定性满足产线测量需求。
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Mini/Micro LED显示屏光学视角特性综合测试

DMS平板显示光学特性测试系统是远方公司基于多年的光学设备研发和生产经验成功开发的显示设备光电特性综合测量系统,该系统测量参数齐全、测量准确度高、自动化程度高,可用于测量显示屏的常规光、色、电性能,搭配瞬时特性测量装置可测量显示屏的瞬时特性参数,搭配环境光测试组件还可测量显示屏的环境光特性。非常适用于手机、平板电视、车载显示等显示屏的自动化测试。
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