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Mini/Micro LED测量解决方案 Mini/Micro LED测量解决方案

系统简介

Mini/Micro-LED 凭借着自发光、广色域、对比度高、响应快等特点得到广泛的应用,远方可提供从单颗芯片、LED模组到Mini/Micro-LED显示屏的综合测试解决方案,主要包括常规光色电参数、光强分布、亮度及色度均匀性、GAMMA曲线以及显示器的视角特性、瞬时特性、串扰等综合特性参数的测试。
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Mini/Micro LED 单颗芯片光电性能测试

HSF-200 Micro-LED 高灵敏快速光电性能分析系统搭载高灵敏绝对光谱辐射功率分析仪、高灵敏光强测量单元,并配备专业的测量分析软件,可实现单颗及阵列Mini/Micro-LED的发光光谱分布、辐射功率、光强、色品坐标、主波长、峰值波长、半宽度等相关参数的精准测试。
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单颗LED及LED模组光电性能、角度测试分析

PCE系列光色电综合测试系统采用世界领先的高精度快速光谱辐射计,主要用于测试LED背光源、LED模块的相对光谱功率分布、光通量、光效、光功率、相对光谱功率分布、色品坐标、色温、显色指数等参数。LED626可实现LED的正向电压、正向电流、反向电压、反向电流、光强、光束角、三维光强分布图、光强随正向电流变化特性曲线等参数的测量。
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二维面阵式亮度、色度及均匀性分析

CXC-µ系列成像彩色亮度计精确匹配CIE1931的配色函数,可实现二维亮度及色度的测量,主要用于Mini/Micro LED像素级的亮度及色度的均匀性的测量,具有成像质量好、精度高、测量速度快、操作方便等优点。
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Mini/Micro LED微光源的光谱及亮度测试

MRAS微光源光谱辐亮度彩色分析系统集光谱、辐射亮度、亮度和颜色测量功能于一体,不存在V(λ)失匹配误差,专用于Mini-LED、Micro-LED等微小发光面的光色性能测量。采用机器视觉系统代替人眼对焦定位,避免强光对人眼造成伤害,同时配置精密对准装置,保证操作便捷性与测量准确性和重复性,满足实验室高精度测量需求。
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产品的GAMMA校正及频闪测试

DCA系列显示色彩分析仪是基于远方多年的光度色度测量技术沉淀,XYZ三通道探测器光谱灵敏度曲线与CIE 1931三刺激值曲线拟合度高,XYZ三刺激值测量精度达到光谱级水平,主要用于Mini/Micro-LED、OLED等显示器的亮度、色度、GAMMA曲线以及频闪参数的测量。不仅适合现场快速测量,也以其卓越的重复性和稳定性满足产线测量需求。
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Mini/Micro LED显示屏光学视角特性综合测试

Mini/Micro LED微显示屏的光学综合特性测试系统主要用于测量微显示屏的光场特性、光谱、亮度、色度、色偏、色域、对比度、可视角特性、Gamma、Crosstalk、像素点缺陷、温度特性等。非常适用于Mini/Micro-LED、硅基OLED等微小型显示屏的自动化测试。 常规光、色、电性能,搭配瞬时特性测量装置可测量显示屏的瞬时特性参数,搭配环境光测试组件还可测量显示屏的环境光特性。非常适用于手机、平板电视、车载显示等显示屏的自动化测试。
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Micro/Mini近场分布光度测试

AR/VR用的Micro-LED微显示器、投影用Micro/Mini-LED模组以及LED、OLED光源与灯具等光学系统的设计,无不需要Micro/Mini-LED的近场光分布信息,GO-NFM系统就是专门用于解决辐射波长在380nm----780nm范围内的10 µm-2000 µm的发光体的近场光分布测量,测量角度范围覆盖整个上半球(2Л)发光空间。
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