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OLED光色电特性测试解决方案 OLED光色电特性测试解决方案

系统简介

远方光电的OLED测试解决方案主要包括: OLED器件 的IVL测试系统、OLED显示器/器件光学特性测试、OLED显示器光色电测试系统、面测量仪器、高低温环境下OLED显示屏的综合测量、薄膜和玻璃雾度和透过率测试系统等,满足OLED国际及国内相关标准要求。
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OLED 器件的IVL测试系统

自发光OLED屏幕因“绝对”黑,可实现超高的对比度,为客户提供更惊艳的视觉体验;自发光可以实现超低能耗,为更多穿戴设备带来新的机遇,也成为节能带来新的希望。因此,对于OLED屏幕IVL特性测量分析也成为研究的重中之重,远方显示产品系列为不同客户群均可提供专业的解决方案,涉及未封装teg(手套箱内)、封装teg等多方面测量。
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OLED器件老化寿命/光学特性测试

OLED显示器因其高色域、低能耗、轻薄、柔性等特点近些年得到广泛追捧,但因为其发光材料本身为有机高分子材料,老化寿命也成为OLED显示器不得不面对的问题。远方自主研发寿命测试系列设备覆盖teg、Panel、模组终端等,还可兼容常温——高温、低温——高温等温度特性的影响,为客户提供更全面的老化测量解决方案。
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OLED显示器视角测量解决方案

OLED材料可做成薄膜发光材料及柔性显示,显示器的视场角较大,因此对于OLED显示器的视角特性的好坏也会给消费者带来巨大的影响。远方显示自主研发的OLED系列、DMS系列产品可以实现常温至高温、低温至高温等不同条件下的视角特性测量评估工作;同时DMS系列还可搭配不同的环境光源,可以真实还原屏幕在不同光照环境下的视角显示特性,为生产企业提供助力。
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OLED的光色电测试系统

测试OLED的外量子效率、光通量、光效、光功率、相对光谱功率分布、色品坐标、色温、主波长、峰值波长、光谱半宽度、显色指数、色纯度、红色比、色容差、电压、电流等参数。
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面光学测量

OLED因其为有机发光材料会存在老化衰减,作为显示屏幕,会出现诸多问题,常见的如:烧屏、Mura等。远方自主研发的CX系列成像亮度计从低像素至高像素均有覆盖,搭配专业的软件可以实现长残、Mura、Sparkle等多种面光学测量分析,可以更好的指导研发设计改进。
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OLED显示器亮度和色度均匀性及白平衡测试系统

SRC系列光谱彩色亮度计是远方光电基于30余年的光辐射测量的技术沉淀,结合精密的光学设计技术和高性能电子信号处理技术,推出的高精度光谱彩色亮度计。它是集光谱、亮度、颜色测量功能于一体,特别适用于OLED低亮度下测试,即使低亮度下也能保持卓越的精度及测量速度。
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薄膜和玻璃雾度和透过率测试系统

HAM系列高精度光谱雾度计主要用于玻璃盖板、光学膜等材料不同波长下的光谱透光率、雾度以及材料在特定光源下光色性能测试,参照ASTM D1003,GB/T 2410,ISO14782等标准的要求。光谱波段范围覆盖380-1000nm适合大小尺寸样品的测试需求。
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OLED显示器的供电电源、谐波及电性能检测

主要用于给显示器提供直流稳定的供电条件,并测量显示器的电压、电流、功率、待机功耗等电性能参数。
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显示器的电磁兼容EMC测试

按照显示器相关标准要求,对车载/机载显示器等进行电磁兼容试验。测试项目涉及EMI传导干扰试验、静电放电(ESD)、快速瞬变脉冲(EFT)、雷击浪涌(SURGE)、周波跌落(DIP)及相关辐射骚扰、抗扰度测试等。
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