OLED-1000 多路OLED加速老化寿命与光电性能分析系统
IVL曲线及老化寿命测试功能于一体
适用于OLED器件和模组测试
典型应用场景
OLED-1000多路OLED加速老化寿命与光电性能分析系统集高精度光谱亮度计、暗箱、移动装置、电源及专用测试软件于一体，根据国际和国家相关标准要求，针对OLED器件成功开发的综合测量系统。系统可用于多片OLED器件加速老化寿命测试及IVL、亮度色度分布测试等常规的光、色、电性能分析，实现被测样品的多功能、自动化、高精度测试。
主要特点
一、集光谱、亮度、颜色测量功能于一体
可测量的参数包括亮度、相对光谱功率分布、色品坐标、相关色温、色域覆盖率等，涵盖了被测对象的光度、光谱及颜色参数。
二、高性能光谱系统，测试精度更高
采用光谱法（分光法）实现亮度及颜色参数，不存在V(λ)失匹配和XYZ三刺激值探测器的匹配误差,测量精度更高。远方的光谱分析系统已有二十余年的生产经验，拥有三十多项专利技术，设备可靠、稳定。
主要技术指标
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