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LED封装及模组光色检测 LED封装及模组光色检测

系统简介

远方光电提供专业的LED封装及模组测试仪器,主要包括LED光色电综合性能测试系统、LED光强角度测试系统、LED近场分布测试、LED加速老化试验及寿命测试系统、LED热学(结温、热阻)测试系统、LED光辐射安全测试(IEC62471测试)系统、LED近场分布光度计、电磁兼容(EMC)试验系统、在线测试系统等。
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LED光色电综合性能测试

测试光通量、光效、光功率、相对光谱功率分布、色品坐标、色温、主波长、峰值波长、光谱半宽度、显色指数、色纯度、红色比、色容差、正向电压、正向电流、反向电压、反向电流等参数。可同时实现LED的瞬态光学特性测量(脉冲测量)及稳态光学特性测量(直流测量)。 可实现测试并分析LED、大功率集成封装(COB)LED、LED模组等产品在不同壳温/结温下的光色电综合特性(选项)。
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LED光强、角度测试

测试LED封装及模组的空间光强分布(配光性能)、空间颜色分布、平均颜色及颜色不均匀性、总光通量准确测试;以及封装的光强随正向电流变化特性曲线、正向电流随正向电压变化特性曲线、光强随时间变化特性曲线、正向电压、正向电流、反向电压、反向电流等参数。
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LED加速老化试验及寿命测试 

用于单颗LED、LED模组的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。测试项目包括:LED光度(或光效)-时间变化曲线(光通量维持特性曲线); LED光度-管基温度-时间变化曲线(温度特性试验)、LED色度-管基温度-时间变化曲线(温度特性试验)、LED结电压-时间变化曲线、LED结电压-光度变化曲线、LED结电压-色度变化曲线等。并可通过数据处理,建立推算模型,推算出该加速应力下LED样品的预期寿命。 参考IESNA LM-80-2008、IES TM-21、ENERGY STAR等国际及国内相关标准。
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LED热学(结温、热阻)测试

实现LED热阻、参考热阻、热校准系数、结温以及电性能参数的分析测量,同时可绘制不同环境温度下的电流(mA)-电压(V)特性曲线(I-V@TC), 电压(V)/结温(℃)/-时间(ms)曲线,瞬态升温、降温曲线、积分结构曲线、微分结构曲线和相对光谱曲线等。
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LED光辐射安全测试(IEC62471测试)

LED的光谱分布、光谱辐亮度、光谱辐照度、照度、危害加权辐射曝光量、等效紫外辐射比(mW/klm)、表观光源尺寸、色温、色坐标、显色指数、色容差等参数。包括皮肤和眼睛的光化学紫外危害、眼睛的近紫外危害、视网膜蓝光危害、视网膜热危害等,并根据危害性程度进行光辐射安全等级评定。 参考IEC/EN 62471、CIE S009、GB/T 20145、IEC/EN 60598、GB7000.1、2005/32/EC欧盟指令等标准。
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LED近场分布光度计

GO-NR1000近场分布光度计适用于小型光源(如LED等)的近场光度测量,能够得到光源的亮度分布,并通过算法建立光线模型,得到总光通量、空间任意平面的照度分布以及远场光强分布等。系统输出的光线模型能与Tracepro等光学软件相配合,更方便、准确地进行照明产品等的二次光学设计和研发。
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电磁兼容(EMC)试验 

系统兼具静电放电试验及LED正向电压、反向漏电流测试等功能,可实现LED静电敏感等级的自动判定。参考IEC及LED相关标准设计,进行抗静电能力(ESD)试验。多种试验模式(IEC模式、MM机器模式、HBM人体模式)可选择。
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