远方VNF-200近场特性分析仪_远方光电

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VCSEL检测系列-

远方VNF-200近场特性分析仪
产品名称

远方VNF-200近场特性分析仪

  • 产品描述
  • 技术参数
  • 应用指南
       远方VNF-200 VCSEL近场特性分析仪专为VCSEL的表面近场特性分析设计,兼具测量速度快、光学分辨率高、测量精度高的特征。仪器采用显微光学系统与成像系统结合的方式,并依据VCSEL的特性优化设计,实现VCSEL的高倍率显微成像辐射分析。通过单次测量得到VCSEL表面二维阵列排布、坏点检测及辐亮度数据,同时得到单点尺寸。配备专用分析软件,可输出符合标准的测试报告。适用于产线及实验室中VCSEL表面特性的快速、精确分析。
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主要技术指标:
1)、传感器:800万像素
2)、光谱范围:400 ~ 1000 nm
3)、视场:2×2 mm
4)、分辨率:1×1 μm
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