LT-200A 单颗LED和LED模组加速老化与寿命测试系统_远方光电

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热阻及老化寿命系列-

LT-200A  单颗LED和LED模组加速老化与寿命测试系统
产品名称

LT-200A 单颗LED和LED模组加速老化与寿命测试系统

  • 产品描述
  • 技术参数
  • 应用指南

多家检测实验室已使用老化寿命测试系统通过美国NVLAP关于LM-80的认可

 用于LED封装产品、LED模组、LED阵列的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、颜色偏移试验、温度特性试验、寿命试验等;

 具备LED寿命推算及预估功能;

 实时的在线光电色参数自动测试,使得原本漫长而繁复的LED老化,寿命试验和温度试验变得十分简单与轻松。


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 90工位(可根据订单调整)LED同时试验,效率高;

  可调温恒温试验箱温度控制范围:(室温+20℃~100℃(特殊定制可为-20℃~ 100℃);

 光度线性:0.2%;

光纤耐温:-40--+150℃;

 光谱分析波长范围:380nm-1000nm;

波长准确度:0.3nm;

 

 


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