远方应邀参加会议并做题为《Mini-LED与Micro-LED相关检测技术最新进展》的专题报告。
Mini & Micro-LED是当前最受关注的半导体发光技术，有望成为下一代信息显示技术的主流，ipad中率先采用的Mini-LED背光更是引领了显示产业风向标。本报告从Mini& Micro-LED的特点出发，结合实际测量案例分析Mini& Micro-LED测量所面临的挑战，并提供了相应测量解决方案。同时针对于目前显示光学性能测量所面临的普遍问题：如何保证产业上下游间测量数据一致性，如何客观测量和评价不同类型显示器件？本报告从光色度学原理出发，剖析了各类器件和面板测量的要素，并进一步提出了检测综合解决方案。
