“2018 第三届全国显示产业计量测试技术研讨会”召开#潘建根董事长应邀作技术报告_远方光电

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“2018 第三届全国显示产业计量测试技术研讨会”召开#潘建根董事长应邀作技术报告

2018-09-19648
9月18日至20日,由中国计量测试学会、中国计量科学研究院、国家平板显示产业计量测试中心及国防科技工业光电子一级计量站联合主办的“2018 第三届全国显示产业计量测试技术研讨会”在苏州举行。会上还宣布成立“全国显示产业计量测试技术联盟”。杭州远方光电信息股份有限公司当选联盟副主席单位。

本届研讨会以“精准测量,品质保障”为主题,围绕企业设计研发、生产制造、品质检验过程中测量技术如何保障产品质量一致性展开讨论,会议邀请了众多行业专家和跨国企业代表参与交流。杭州远方光电信息股份有限公司董事长潘建根教授作为特邀嘉宾带来《高光谱技术及其在显示测量中的应用》的技术报告。

潘建根董事长的报告首先介绍了高光谱的概念以及国内外高光谱成像技术的应用领域,接着介绍了四种典型的高光谱成像技术实现方案(Spacial scan、Spectral scan、Snapshot imaging及Spatiospectral scanning),并分别对每种技术方案的优缺点进行分析;同时报告梳理了现有显示测量的通用方案及其局限性,结合瞄点式亮度计及成像式亮度计的优缺点引出高光谱图像技术应用于显示测量领域,并详细介绍和分析国内外现有高光谱图像在显示测量实现的技术方案。报告还基于远方的发明专利(一种光纤束光谱仪,专利号ZL 201110264333.1)介绍了一种适合于显示测量的新型高光谱成像技术方案,该方案具有多种配置灵活的实施案例,可同时进行高空间分辨率及光谱分辨率的图像、光谱测试,测量速度快、精度高。报告分享了国内外先进的高光谱成像技术,为显示测量提供的新思路、新探讨,得到了与会专家的高度肯定。

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